Granīta komponenti tiek plaši izmantoti precīzās ražošanas jomā, un līdzenums kā galvenais rādītājs tieši ietekmē tā veiktspēju un produkta kvalitāti. Tālāk sniegts detalizēts ievads granīta komponentu līdzenuma noteikšanas metodē, iekārtās un procesā.
I. Noteikšanas metodes
1. Plakankristāla interferences metode: piemērota augstas precizitātes granīta komponentu plakanuma noteikšanai, piemēram, optisko instrumentu pamatnei, īpaši precīzai mērīšanas platformai utt. Plakankristāls (optiskais stikla elements ar ļoti augstu plakanumu) ir cieši piestiprināts pie pārbaudāmā granīta komponenta plaknē, izmantojot gaismas viļņu interferences principu, kad gaisma iet caur plakano kristālu un granīta komponenta virsmu, veidojot interferences svītras. Ja elementa plakne ir pilnīgi plakana, interferences bārkstis ir paralēlas taisnas līnijas ar vienādu atstarpi; ja plakne ir ieliekta un izliekta, bārkstis salieksies un deformēsies. Atbilstoši bārkstiņu lieces pakāpei un atstarpei, plakanuma kļūdu aprēķina pēc formulas. Precizitāte var sasniegt nanometrus, un mazo plaknes novirzi var precīzi noteikt.
2. Elektroniskā līmeņa mērīšanas metode: bieži izmanto lielos granīta komponentos, piemēram, darbgaldu gultās, lielās portālu apstrādes platformās utt. Elektroniskais līmeņrādis tiek novietots uz granīta komponenta virsmas, lai izvēlētos mērīšanas punktu un pārvietotos pa noteiktu mērīšanas ceļu. Elektroniskais līmeņrādis, izmantojot iekšējo sensoru, reāllaikā mēra leņķa izmaiņas starp sevi un gravitācijas virzienu un pārveido to līmeņa novirzes datos. Mērīšanas laikā ir jāizveido mērīšanas režģis, jāizvēlas mērīšanas punkti noteiktā attālumā X un Y virzienos un jāreģistrē katra punkta dati. Ar datu apstrādes programmatūras analīzi var pielāgot granīta komponentu virsmas līdzenumu, un mērījumu precizitāte var sasniegt mikronu līmeni, kas var apmierināt liela mēroga komponentu līdzenuma noteikšanas vajadzības lielākajā daļā rūpniecisko ainu.
3. KMM noteikšanas metode: visaptverošu līdzenuma noteikšanu var veikt sarežģītas formas granīta komponentiem, piemēram, granīta substrātam īpašas formas veidnēm. KMM pārvietojas trīsdimensiju telpā caur zondi un pieskaras granīta komponenta virsmai, lai iegūtu mērīšanas punktu koordinātas. Mērīšanas punkti ir vienmērīgi sadalīti komponenta plaknē, un tiek izveidots mērīšanas režģis. Ierīce automātiski apkopo katra punkta koordinātu datus. Izmantojot profesionālu mērīšanas programmatūru, saskaņā ar koordinātu datiem, lai aprēķinātu līdzenuma kļūdu, var ne tikai noteikt līdzenumu, bet arī iegūt komponenta izmēru, formu un pozīcijas pielaidi un citu daudzdimensiju informāciju. Mērījumu precizitāte atkarībā no iekārtas ir atšķirīga, parasti no dažiem mikroniem līdz desmitiem mikronu, augsta elastība, piemērota dažādu veidu granīta komponentu noteikšanai.
II. Testēšanas aprīkojuma sagatavošana
1. Augstas precizitātes plakanais kristāls: Izvēlieties atbilstošo precizitātes plakano kristālu atbilstoši granīta komponentu noteikšanas precizitātes prasībām, piemēram, nanoskalas plakanuma noteikšanai jāizvēlas īpaši precīzs plakanais kristāls ar plakanuma kļūdu dažu nanometru robežās, un plakanā kristāla diametram jābūt nedaudz lielākam par pārbaudāmā granīta komponenta minimālo izmēru, lai nodrošinātu pilnīgu noteikšanas zonas pārklājumu.
2. Elektroniskais līmeņrādis: Izvēlieties elektronisko līmeņrādi, kura mērījumu precizitāte atbilst noteikšanas vajadzībām, piemēram, elektronisko līmeņrādi ar mērījumu precizitāti 0,001 mm/m, kas ir piemērots augstas precizitātes noteikšanai. Vienlaikus ir sagatavota atbilstoša magnētiskā galda pamatne, lai atvieglotu elektroniskā līmeņrāža stingru adsorbciju uz granīta komponentes virsmas, kā arī datu ieguves kabeļi un datora datu ieguves programmatūra, lai panāktu mērījumu datu reģistrēšanu un apstrādi reāllaikā.
3. Koordinātu mērinstruments: Atkarībā no granīta komponentu izmēra un formas sarežģītības, jāizvēlas atbilstošs koordinātu mērinstrumenta izmērs. Lieliem komponentiem nepieciešami lieli gājiena mērinstrumenti, savukārt sarežģītām formām nepieciešams aprīkojums ar augstas precizitātes zondēm un jaudīgu mērīšanas programmatūru. Pirms noteikšanas KMM tiek kalibrēts, lai nodrošinātu zondes precizitāti un koordinātu pozicionēšanas precizitāti.
III. Testēšanas process
1. Plakankristālu interferometrijas process:
Notīriet pārbaudāmo granīta komponentu virsmu un plakano kristāla virsmu, noslaukiet ar bezūdens etanolu, lai noņemtu putekļus, eļļu un citus piemaisījumus, lai pārliecinātos, ka abi komponenti cieši pieguļ bez spraugām.
Lēnām novietojiet plakano kristālu uz granīta elementa virsmas un viegli piespiediet, lai abi pilnībā saskartos un izvairītos no burbuļiem vai sasvēršanās.
◦ Tumšās istabas vidē plakano kristālu vertikāli apgaismo ar monohromatisku gaismas avotu (piemēram, nātrija lampu), no augšas novēro interferences joslas un reģistrē joslu formu, virzienu un izliekuma pakāpi.
◦ Pamatojoties uz interferences bārkstiņu datiem, aprēķiniet līdzenuma kļūdu, izmantojot atbilstošo formulu, un salīdziniet to ar komponenta līdzenuma pielaides prasībām, lai noteiktu, vai tas ir kvalificēts.
2. Elektroniskā līmeņa mērīšanas process:
◦ Granīta komponentes virsmā tiek uzzīmēts mērīšanas režģis, lai noteiktu mērīšanas punkta atrašanās vietu, un blakus esošo mērīšanas punktu attālums tiek noteikts atbilstoši komponentes izmēram un precizitātes prasībām, parasti 50–200 mm.
◦ Uzstādiet elektronisko līmeņrādi uz magnētiskas galda pamatnes un piestipriniet to mērīšanas režģa sākuma punktam. Ieslēdziet elektronisko līmeņrādi un reģistrējiet sākotnējo līmeņrādi pēc tam, kad dati kļūst stabili.
◦ Pārvietojiet elektronisko līmeņrādi punktu pa mērīšanas ceļu un reģistrējiet līdzenuma datus katrā mērīšanas punktā, līdz visi mērīšanas punkti ir izmērīti.
◦ Importēt izmērītos datus datu apstrādes programmatūrā, izmantot mazāko kvadrātu metodi un citus algoritmus, lai pielāgotu līdzenumu, ģenerēt līdzenuma kļūdas ziņojumu un novērtēt, vai komponenta līdzenums atbilst standartam.
3. CMM noteikšanas process:
◦ Novietojiet granīta komponentu uz CMM darba galda un ar stiprinājumu stingri nostipriniet to, lai nodrošinātu, ka komponents mērīšanas laikā nepārvietojas.
◦ Atbilstoši komponentes formai un izmēram mērīšanas programmatūrā tiek plānots mērīšanas ceļš, lai noteiktu mērīšanas punktu izvietojumu, nodrošinot pilnīgu pārbaudāmās plaknes pārklājumu un vienmērīgu mērīšanas punktu izvietojumu.
◦ Iedarbiniet koordinātu mērīšanas iekārtu (CMM), pārvietojiet zondi atbilstoši plānotajam ceļam, sazinieties ar granīta komponentu virsmas mērīšanas punktiem un automātiski apkopojiet katra punkta koordinātu datus.
◦ Pēc mērījuma pabeigšanas mērījumu programmatūra analizē un apstrādā apkopotos koordinātu datus, aprēķina līdzenuma kļūdu, ģenerē testa ziņojumu un nosaka, vai komponenta līdzenums atbilst standartam.
If you have better advice or have any questions or need any further assistance, contact us freely: info@zhhimg.com
Publicēšanas laiks: 2025. gada 28. marts